单项选择题
检测晶粒粗大的材料,应使用()。
A.高频率的探头 B.底频率的探头 C.双晶探头 D.表面波探头
单项选择题 零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号的显示叫做()。
单项选择题 在直探头探伤过程中,引起底波高度明显下降或消失的因素有()。
单项选择题 超声试验系统的灵敏度()。